Allied Vision 旗下的 allPIXA evo 32K 線掃相機,透過創新雙 16k 感測線與即時演算法,生成高達 32k 卓越影像,完美適用於半導體、PCB 與 AOI 檢測。
由 Allied Vision (AVT) 推出的全新型號 allPIXA evo 32K CXP Line Scan 線掃描相機 (Mono Z),透過創新雙 16K 感測線與即時演算法,生成高達 32K 的卓越影像,特別適用於半導體、PCB 與 AOI 自動光學檢測等次像素級缺陷檢測應用。
以 2-Line Pixel Shift 技術,並利用相機內 FPGA 的即時硬體驗算法,取得超高解析度的次像素 32K 影像。