為需在短波紅外線光譜範圍內進行材料分析的機器視覺應用提供卓越成像能力。此類應用涵蓋食品與回收產業的光學分選，以及半導體檢測領域。透過先進的砷化銦鎵（InGaAs）感測器技術，其提供 950 至 1,700 奈米的寬廣光譜範圍，實現超越可見光範圍的成像能力。
