【業界首創】突破動態視覺檢測極限:獨家 32K 閃頻線掃整合方案,大幅精簡機構空間及開發成本

2026.07.30
奧騰獨家 32K 閃頻線掃整合方案,採用 Allied Vision allPIXA evo 32K 線掃相機,透過閃頻技術單站同時獲取明視野與暗視野影像,精準檢測髒污與微小刮傷。

【一分鐘精華總結】

為了在極限空間內捕捉最微小的產品瑕疵,並免除多站別間瑕疵 Mapping 工序台灣奧騰結合全球頂尖視覺品牌 Allied VisionallPIXA evo 32K 線掃描相機,成功打造出當前業界唯一的「32K 閃頻高速高精度動態視覺解決方案。透過閃頻Strobe )(又稱「分時頻閃」)技術,只需架設單一站點,即可獲得明暗視野影像,一次性檢測多種瑕疵。不僅為客戶大幅節省硬體空間,更從物理底層徹底消除多站對位誤差,是現代產線提高良率及進行 AOI 設備升級的最強硬體後盾。

 

頂尖硬體的強大整合:Allied Vision allPIXA evo 32K 奧騰獨家閃頻系統

Allied Vision 作為全球機器視覺領域的領導品牌,以卓越影像品質及可靠性聞名於世。這套客製化 AOI 解決方案採用德國知名工業相機大廠 Allied Vision(簡稱「 AVT 」)的 allPIXA evo 32K 線掃相機,是市場上極少數能同時提供32,768像素超高解析度及極速傳輸介面的高階工業相機台灣官方代理奧騰團隊憑藉深厚的機器視覺系統整合實戰力,將其與獨家閃頻控制器完美結合,極大發揮硬體潛能。

 

核心硬體規格表:AVT allPIXA evo 32K (CXP)

規格項目 規格細節
型號 Allied Vision allPIXA evo 32K CXP
感測器類型 2D CMOS線掃描感測器( Line Scan
極限解析度 32,768 × 1 pixels
像素大小(Pixel Size 5.00 µm × 5.00 µm
最高掃描行頻(Line Rate 73 kHz
資料傳輸介面 CoaXPress(CXP12 *4)
光譜與影像色彩 黑白Mono(Visible-NIR,可見光及近紅外光)
鏡頭接口(Lens Mount M95 × 1 mm

詳細規格資訊,請參考[allPIXA evo 32K CXP Mono線掃相機]。

 


 

什麼是「閃頻」?突破傳統線掃相機打光瓶頸的技術

傳統的 Line Scan 線掃相機為了看清不同種類的瑕疵(如:明視野看髒污、暗視野看刮傷),必須架設多台相機及光源,衍生出極高的空間與調校成本。

 

本方案導入的「閃頻」技術(業界又稱為「分時頻閃」,Time-Division Stroboscopic TechnologyTime-Division Strobe Technology),利用控制器精準同步多組光源,以極高頻率交替閃爍各自取像,最終將數據拆分為獨立的完整影像。

 

奧騰 32K 閃頻線掃相機實拍畫面,展示 Chips 與 Substrate 在明視野與暗視野下的高解析度取像效果對比。

Chips 和 Substrate 在32K閃頻線掃相機下的明暗場效果

 


 

【工程技術解析】優化系統時序機制,根除高速檢測的影像位移與錯位

在要求高速與精準的 AOI 領域中,閃頻(Strobe技術早已廣泛應用於抑制運動模糊、提升影像對比。然而,真正決定檢測品質的關鍵,不只是「可以閃」,而是相機每一次曝光,以及光源每一次閃光,都能精準同步且長時間穩定運作。

 

奧騰之所以能將 32K 相機和獨家閃頻控制技術結合,在於 Encoder、Trigger、相機曝光到光源驅動,全面優化訊號時序及系統同步機制,有效降低時序誤差造成的影像位移、拼接錯位或因訊號不穩導致灰階不一致等問題,即使面對長時間連續生產或高速掃描,也能維持可靠的影像一致性,為 32K 的檢測能力帶來大幅躍進。

 


 

以下是 32K 閃頻的三大顛覆性優勢:

  1. 【空間極簡】多種光源整合一站,大幅節省機台體積

無須為了多顆鏡頭思考機構干涉問題,單站架設讓檢測機台「瘦身」,降低建置與維護成本,一次過線即可取得明暗交錯的原始資料並自動拆分,不用反覆測試。在不犧牲產線速度的前提下一次檢測多種瑕疵,讓隱蔽瑕疵無所遁形。

 

  1. 【精度及時間】物理層同步,消除多站誤差,免除軟體疊圖對位/Mapping 工序

傳統多站架設常因產線輸送導致影像座標產生偏差。閃頻技術直接在底層精準同步取像,拆分出的多張影像座標完全一致(Pixel to Pixel),這不僅根除錯位問題,更省去工程師撰寫對位演算法的麻煩,大幅縮短專案開發與調機週期。

 

  1. 【效率提升】可拍3種光源影像+支援多組光源 FFC 校正

確保每個閃頻效果都能取得亮度均勻的影像,實現 AOI 光學檢測自動化的高效產能。

 

32K 閃頻技術應用於 Waffer(晶圓)檢測實拍,一站同時產出明視野及暗視野成像,清晰呈現表面髒污與微小刮傷。

32K閃頻多光源取像,一站出 Waffer 明視野及暗視野成像,表面髒污和刮傷無所遁形。

 

規格對照表:傳統線掃多光源架設 vs. 奧騰 32K 閃頻整合方案

比較項目 傳統線掃多站相機架構 奧騰 32K 閃頻線掃整合方案
硬體佔用空間 需龐大空間架設多機多鏡頭 大幅度精簡,單站即可應對
解析度及極限 常規 4K / 8K / 16K 拼接 業界唯一 32K 超高解析
影像座標一致性 易受機台震動影響產生偏移 同機同位擷取,100%像素完美重合
軟體開發成本 需開發複雜的對位校正演算法 無須對位,直接產出清晰影像
AI AOI 導入友善度 易因座標位移產生雜訊誤判 極佳,提供最乾淨的影像特徵

 


 

完美賦能 AI:為何「32K 閃頻」是 AI AOI 的最佳基石?

近年來,全球產線積極尋求 AI 瑕疵檢測升級,但在導入過程中常面臨「AI 誤判率居高不下」的困境。其實,問題往往不在 AI 演算法,而是在於前端輸入的「影像品質不一致」。

 

AI AOI 導入 的過程,如果用傳統多站相機拍攝多種光源,由於機構震動,兩張影像的像素座標無法完美重合,而當 AI 試圖將這兩張圖結合在一起學習時,這些微小的「座標偏差」就會變成干擾 AI 判斷的「雜訊(Garbage in, garbage out)」。

 

奧騰的 32K 閃頻產出的是像素級完美對位(Pixel-Perfect Alignment數據,AI 能在完全相同的座標上,同時學到該位置在不同光源下的特徵,從根本降低過殺率及漏檢率,為高解析度檢測升級建立最穩固的硬體基石。

 


 

關於台灣奧騰有限公司:AOI 一站式整合服務

除了軟硬體元件提供,奧騰(OPTICKS TECHNOLOGY更具備跨產業的多元視覺導入經驗,能提供最合適的客製化光學檢測規劃,由專家團隊協助產線檢測設備精準選型及無痛升級。

 


 

更多主題文章

歡迎參考 [Allied Vision線掃描相機專頁] 了解相關產品詳細資訊。

常見問題
Q1:如果我們的產線已經有舊型的檢測機台,想要升級這套 32K 閃頻系統,會不會很難導入?需要把整台機器換掉嗎?

A1:完全不需要!由於我們的方案能大幅節省硬體空間,極度適合用於現有的 AOI 機台改造AOI 設備升級。奧騰的工程團隊會先評估原有機台架構,量身規劃專屬的客製化 AOI 解決方案。只需要極小的機構架設空間,就能讓舊機台升級為擁有多維度影像的高階設備,是邁向 AI 瑕疵檢測升級最具成本效益的捷徑。

Q2:高速切換光源,會不會導致產線降速或影像亮度不足?

A2:不會。這正是32K閃頻技術所在。透過精密控制器及高功率LED,配合 Allied VisionAVT32K 相機極短的曝光時間控制,確保在極速動態掃描下依然能提供充足亮度,維持原本產線的吞吐量。

Q3:導入 32K 閃頻後若遇到技術問題,奧騰能提供什麼協助?

A3:32K 閃頻整合難度高,一般光學檢測公司僅單售硬體或軟體,上線後遇到系統雜訊或取像順序異常,往往求助無門,奧騰【 AOI 一站式全方位整合服務 】,不只提供相機,也支援問題處理,無論是影像核心(高階相機、取像卡、客製化鏡頭)、環境控制(專業光源配置與設計、抗雜訊處理、閃頻系統可靠度方案)、系統整合(硬體 Real-time 訊號控制、提供完整 SDK 與範例程式),每個環節都能提供完整技術協助,承諾讓取像絕對清晰,協助客戶實現良率提升產線升級

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