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DIC微分干涉

UI-DIC
  • 光學式高速自動對焦系統。
  • 對應Area Scan和Line Scan的顯微成像(Infinity-corrected Microscope)之完整解決方案。
  • 硬體控制器即時處理對焦訊號,提供高可靠度和高精確度。
  • 適合的照明方式:標準的同軸明視野照明+DIC。
  • 可選配環形鼻輪,或者線性Slider鼻輪。
  • 除標準對焦模式外,亦提供專為半導體晶圓&晶片掃描設計的全新對焦模式。
產品規格
INFORMATION
產品資訊

系統原理

 

 

 

 


 

應用範圍

  • 廣泛應用於異方性導電膠膜(ACF Anisotropic Conductive Film)的相關製程後之檢測,包括:
    ACF for LCD FOG ( Film on Glass)
    ACF for LCD FOB ( FPC on PCB )
    ACF for LCD COG ( Chip on Glass)

 

  • 利用DIC(微分干涉)的光學特性,透過光波的偏振干涉方式,用以加強影像對比,以識別表面形貌的細微變化,尤其是低對比度甚至透明的物體,上述導電粒子於壓合後,利用DIC可在影像上呈現明暗立體的效果,再以軟體判斷並計算出粒子的形狀、大小、數量與面積…等資訊。